奇景采用泰瑞达高密度LCD驱动IC测试系统

Teradyne日前宣布推出最新的D750Ex LCD驱动IC测试系统，是专门设计用以测试高分辨率LCD驱动器IC。而奇景光电已采用此系统测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC。

奇景光电的技术长蔡志忠表示，选择D750Ex是因为这套系统生产效能高、体积小，非常能符合其在生产、产品上市以及测试成本方面的需求。且D750Ex的弹性转换功能让不但可以测试LCD驱动IC，也能于同一平台上测试逻辑设备。

D750Ex系统确实提供一个每脚端高密度资源的架构，可支持整体程序超过97%平行测试效率，同时具备嵌入式DSP与中央式DSP架构，可增加处理效能。此系统的体积很小，与必须同时使用大型计算机柜和测试头的竞争对手系统相较，所需的空间减少50-85%。

D750Ex采用一万用接口端口架构，可根据设备测试需求将多种类型设备放置于同一系统中，也提供内存测试选项，无须额外埠即可在一次完成测试行动驱动IC。在竞争对手的系统上，行动设备必须于2个平台上测试，一个平台测试LCD，另一个平台测试内存。D750Ex适用于各信道的“任一脚端”架构，大幅简化探针卡的设计，也使得多点测试的开发环境更为弹性。（DigiTimes）