TFTLCD数组制程瑕疵分析及自动化分类研修班

开班时间地点：

2008年3月25日-26日

(广州，共2天)

支持单位：

广东平板显示产业促进会

主办单位：

中华液晶网（FPDisplay.com）

支持媒体：

《平显时代》、《手机资讯》

详情链接：

http://cn.fpdisplay.com/FPD2008B

课程名称：

「TFT-LCD数组制程瑕疵分析及自动化分类－从理论到系统设计」高阶研修班

Defect Analysis and Automatic Classification for TFT-LCD Array Process: from Theories to System Design

讲师简介：

★刘益宏 (Yi-Hung Liu)

·学历：台大机械系博士 (Ph.D., Department of Mechanical Engineering, National Taiwan University, Taiwan)

·现职：台湾中原大学机械系助理教授 (Assistant Professor, Department of Mechanical Engineering, Chung Yuan Christian University, Taiwan)

·专长：机器视觉 (machine vision)、图形识别(pattern recognition)、人工智能(artificial intelligence)、机器人(robotics)、自动化光学检测(automatic optical inspection)。

 ·其它经历：

     √2007美国辛辛那提大学 访问学者(Visiting scholar, Univ. Cincinnati, USA)

          √名列2007亚洲名人录 (Marquis Who’s Who in Asia 2007)

          √名列2008世界名人录 (Marquis Who’s Who in the World 2008)

课程大纲：

本课程以讲师多年来在台湾与面板厂的合作经验为基础，将深入介绍此制程中每一道光罩中常见的瑕疵、及他们发生的原因。此外，本课程亦将以讲师的学术背景为基础，介绍如何发展各种算法，建立一套自动化瑕疵分类系统。希望可以藉由此课程，帮助面板厂、或是设备商的研发人员建立一个正确的瑕疵检测的概念。此外，为了要介绍瑕疵分类系统的架构，此课程当中将会提到诸多关于「影像处理 (image processing)」、「类神经网络 (neural network)」、「统计学习(statistical learning)」、及「图形辨识(pattern recognition)」等相关理论的「数学」及「观念」。若学员未具有此方面之背景知识，学员可以先以瑕疵分析为主参加此课程，待课程结束之后，学员可以以自修方式补足这方面之不足，便可以自行设计一套可以实用的TFT-LCD数组制程瑕疵分类系统或是软件。在课程最后，讲师将展示以C++开发之瑕疵分类系统及人机接口。